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首頁-產(chǎn)品展示--X-Ray檢測設(shè)備-X-eye SF160F/N Series賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備SF160F/N Series

賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備SF160F/N Series

更新時(shí)間:2024-08-23

產(chǎn)品型號:X-eye SF160F/N Series

簡要描述:賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備SF160F/N Series:用戶可通過需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實(shí)現(xiàn)3次元(3D)影像中進(jìn)行正確的分析出不良的種類,位置及大小。

  • 企業(yè)實(shí)力

    Enterprise Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質(zhì)量保障

    Quality Assurance

詳細(xì)介紹

    賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備SF160F/NSeries簡介:

    1.X-RAYINSPECTIONSYSTEM:

    搭載高性能Micro-focusOpenTube(160kV)的高性能檢測設(shè)備,實(shí)現(xiàn)高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。此外,用戶可通過需求選擇DualCT功能(ObliqueCT,Cone-beamCT)實(shí)現(xiàn)3次元(3D)影像中進(jìn)行正確的分析出不良的種類,位置及大小。

    2.X-raySimple&Easy3DCT:

    1).半導(dǎo)體,電子產(chǎn)品,封裝等產(chǎn)品精密分析用非破壞性檢測設(shè)備(大型PCB可進(jìn)行非破壞性CT分析)

    2).可搭載Option自動檢測S/W,通過手動裝料后的自動檢測,可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢

    3).最大可實(shí)現(xiàn)550x650mm尺寸的產(chǎn)品不良檢測

    4).通過DualCT(ObliqueCT,Cone-beamCT)方式的3D檢測,提供高分辨率,高精度的分析檢測環(huán)境

    5).可搭載長壽命Filament,利于用戶使用便利性(可適用于量產(chǎn)檢測)

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    賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備SF160F/NSeries等,歡迎咨詢上海賽可,我們?yōu)槟峁┵惪桑⊿EC)X-RAY檢測設(shè)備的參數(shù)、價(jià)格、型號、原理等信息,賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備SF160F/NSeries產(chǎn)地為韓國、品牌為賽可,歡迎大家咨詢。


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