賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160RT Series簡介：

●半導(dǎo)體，電子產(chǎn)品，封裝等產(chǎn)品精密分析用非破壞性檢測設(shè)備

●Detector X-tlt與Y-tilt Axis增加2.5D view的自由度

●Multi-layer PCB佳的檢測方案

●可安裝Oblique/Cone-beam CT

●賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160RT Series選配AXI S/W功能可進行量產(chǎn)檢測

1.賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160ER Series：

·精密分析及3D view佳的檢測設(shè)備

·半導(dǎo)體，電子產(chǎn)品，封裝等產(chǎn)品精密分析用非破壞性檢測設(shè)備

·可搭載Option自動檢測S/W，通過手動裝料后的自動檢測，可實現(xiàn)產(chǎn)品全檢

·通過Dual CT (Oblique CT, Cone-beam CT)方式的3D檢測，提供高分辨率

·高精度的分析檢測環(huán)境

2. 賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160F/N Series：

·精密分析及2.5D view佳檢測設(shè)備Detector rotation,簡便·快速獲取2.5D viev最大可實現(xiàn)900 x 900mm的Table size, 可檢測大型PCB和LED

·選配AXI S/W功能可進行量產(chǎn)檢測